전기-전자 테스트 스테이션
8200
AN/알크-161; B-1B ACFT 연령. 최종 품목 식별, O/A DIM: 52.000 in. W., 역은 3개의 단면도로 형성됩니다; 1개 87.500 in. LG., 하나 40.920 in. LG., 하나 43.750 in. LG., 그리고 1 23.250 in. LG. 보드 성능을 검증하는 데 사용되는 특수 기능, 전체 보드는 복잡한 로직/타이밍 오류를 감지하기 위해 단위로 테스트되고 장치 상호 작용/작동을 확인하기 위해 다양한 기능을 통해 실행됩니다. 결함은 컴퓨터 유도 클립/프로브 기술 기능 설명, SERD: 76V-78C를 사용하여 격리됩니다. RCN: 10215-0055-2030 참조 데이터 및 문헌, B-1B ACFT 연령. FSC 응용 프로그램 데이터
DAC | HCC | DMIL | RNCC |
---|---|---|---|
4 | - | - | 3 |
RNVC | SADC | MSDS | RNAAC |
---|---|---|---|
9 | - | - | MG |
전기-전자 장비 테스트에 사용하도록 특별히 설계된 콘솔 및 주변 장비를 포함한 항목 그룹입니다. 자체 테스트 기능이 포함될 수 있습니다. 테스트 스테이션, 유도 미사일을 참조하십시오. 오류 탐지기(수정된 대로)
INC | FIIG | Concept | Condition |
---|---|---|---|
39182 | A23800 | - | 2 |
세부 정보
품목이 부품인 최종 장비의 국가 재고 번호 또는 식별 정보.세부 정보
다른 요구 사항에서 다루지 않고 하나 이상의 다른 기능을 식별하는 데 필수적인 것으로 결정되는 항목의 독특하거나 독특한 특성 또는 품질.세부 정보
항목이 제공되는 기능, 의도된 용도 및/또는 목적을 설명합니다.세부 정보
항목과 관련된 정보에 사용할 수 있는 문헌 및 참조.세부 정보
연방 공급 등급 /fsc/를 다음으로 높은 분류 가능한 어셈블리의 분류에 따라 항목에 할당하는 정당성.HMIC | PMIC | ESD/EMI | Criticality |
---|---|---|---|
N | A | - | - |
UFC | HMC | LTL | LCL |
---|---|---|---|
34580 | - | W | M |
RVC | WCC | TCC | SHC |
---|---|---|---|
- | 72D | Z | Z |
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